Andrias, Sang sang (2018) PENGARUH ECONOMIC VALUE ADDED (EVA) DAN MARKET VALUE ADDED (MVA) TERHADAP RETURN SAHAM PADA PERUSAHAAN MANUFAKTUR YANG TERDAFTAR DI BEI. S1 thesis, Fakultas Ekonomi.
|
Text
Sang Sang Andrias_12808144052.pdf Download (4MB) | Preview |
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui: (1) pengaruh economic value added (EVA) terhadap return saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI periode 2014-2016 dan (2) pengaruh market value added (MVA) terhadap return saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI periode 2014- 2016. Penelitian ini merupakan penelitian asosiatif dengan metode ex post facto. Populasi dalam penelitian ini adalah seluruh perusahaan manufaktur yang terdaftar di Bursa Efek Indonesia tahun 2014 sampai dengan 2016. Pengambilan sampel menggunakan teknik purposive sampling. Teknik analisis data menggunakan regresi linier berganda. Hasil penelitian menunjukkan bahwa: (1) terdapat pengaruh positif economic value added (EVA) terhadap return saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI periode 2014-2016, dibuktikan dengan nilai koefisien regresi sebesar 0,089 dan nilai signifikansi sebesar 0,000; (2) terdapat pengaruh negatif market value added (MVA) terhadap return saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI periode 2014-2016, dibuktikan dengan nilai koefisien regresi sebesar -0,049 dan nilai signifikansi sebesar 0,000; dan (3) terdapat pengaruh Economic Value Added (EVA) dan Market Value Added (MVA) terhadap Return Saham pada perusahaan manufaktur yang terdaftar di BEI periode 2014-2016; dibuktikan dengan nilai F hitung sebesar 19,666; signifikansi sebesar 0,000; dan adjusted R2 = 18,5%.
| Item Type: | Thesis (S1) |
|---|---|
| Subjects: | Umum > Karya Ilmiah Manajemen |
| Divisions: | Fakultas Ekonomi dan Bisnis (FEB) > Manajemen |
| Depositing User: | Admin Manajemen FE |
| Date Deposited: | 19 Feb 2018 02:39 |
| Last Modified: | 30 Jan 2019 15:57 |
| URI: | http://eprints.uny.ac.id/id/eprint/55457 |
Actions (login required)
 |
View Item |