Hendriani, Noni and Ariswan, Ariswan (2019) STUDI TENTANG PENGARUH SPACER PADA KUALITAS KRISTAL LAPISAN TIPIS Cd(S0,6Te0,4) HASIL PREPARASI DENGAN TEKNIK EVAPORASI VAKUM UNTUK APLIKASI SEL SURYA. S1 thesis, Univeritas Negeri Yogyakarta.
|
Text
SKRIPSI FULL.pdf Download (2MB) | Preview |
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh variasi jarak penyangga (spacer) terhadap kualitas lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) hasil preparasi dengan teknik evaporasi vakum dan mengetahui karakteristik kristal lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) dengan variasi jarak penyangga (spacer) melalui teknik evaporasi vakum. Proses preparasi kristal lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) dilakukan menggunakan teknik evaporasi vakum dengan memvariasi spacer yaitu 10 cm, 15 cm, dan 25 cm. Ketiga sampel lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) dikarakterisasi menggunakan XRD (X-Ray Diffraction) untuk mengetahui struktur kristal dan parameter kisi, SEM (Scanning Electron Microscopy) untuk mengetahui morfologi permukaan, dan EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) untuk mengetahui komposisi kimia lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4). Pengaruh variasi spacer terhadap kualitas kristal yaitu semakin dekat spacer maka intensitas sinar X yang terdifraksi yang muncul semakin tinggi. Jika semakin tinggi intensitas yang muncul, maka semakin baik pula keteraturan atomatomnya sehingga bisa dikatakan kualitas kristal akan semakin baik jika intensitas yang dihasilkan tinggi. Dari ketiga variasi spacer, spacer yang optimal dalam menghasilkan lapisan tipis yaitu spacer 10 cm karena memiliki intensitas sinar X terdifraksi yang paling tinggi diantara yang lainnya. Hasil karakterisasi XRD menunjukkan bahwa lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) memiliki struktur kristal kubik. Nilai parameter kisi sampel 1 dengan spacer 10 cm adalah a = 6,218 Å, sampel 2 dengan spacer 15 cm adalah a = 6,181 Å, dan sampel 3 dengan spacer 25 cm adalah a = 6,001 Å. Hasil karakterisasi SEM menunjukkan bahwa kristal lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4) memiliki morfologi permukaan homogen yang terdiri atas butiran (grain) yang memiliki diameter rata-rata 0,278 μm. Hasil karakterisasi EDAX menunjukkan perbandingan presentase komposisi kimia dan molaritas untuk sampel 1 yaitu Cd = 38,44 %, S = 3,11%, dan Te = 58,45% dan 1:0,08:1,5
| Item Type: | Thesis (S1) |
|---|---|
| Uncontrolled Keywords: | lapisan tipis Cd(S0,6Te0,4), semikonduktor, evaporasi vakum |
| Subjects: | Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam > Fisika |
| Divisions: | Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (FMIPA) > Pendidikan Fisika > Fisika |
| Depositing User: | Admin Fisika FMIPA |
| Date Deposited: | 11 Jul 2019 06:59 |
| Last Modified: | 11 Jul 2019 06:59 |
| URI: | http://eprints.uny.ac.id/id/eprint/64502 |
Actions (login required)
 |
View Item |