PENGARUH VARIASI TEKNIK PREPARASI PADA KOMPOSISI KIMIA DAN MORFOLOGI PERMUKAAN BAHAN SEMIKONDUKTOR Sn(Se0,5Te0,5)

Rachman Hakim, Arief and Ariswan, Ariswan (2017) PENGARUH VARIASI TEKNIK PREPARASI PADA KOMPOSISI KIMIA DAN MORFOLOGI PERMUKAAN BAHAN SEMIKONDUKTOR Sn(Se0,5Te0,5). S1 thesis, Universitas Negeri Yogyakarta.

[img]
Preview
Text
skripsi printfix.pdf

Download (2MB) | Preview

Abstract

Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh teknik preparasi terhadap kualitas lapisan tipis Sn(Se0,5Te0,5) dengan menggunakan teknik Bridgman dan teknik evaporasi vakum. Penelitian ini juga bertujuan untuk mengetahui struktur kristal, parameter kisi, morfologi permukaan serta komposisi kima yang terbentuk dari teknik Bridgman dan teknik evaporasi vakum. Teknik Bridgman dilakukan untuk memperoleh sampel dalam bentuk masif, dengan perbandingan molaritas 1:0,5:0,5. Proses penumbuhan kristal lapisan tipis Sn(Se0,5Te0,5) menggunakan teknik evaporasi vakum dilakukan dengan memanaskan sampel massif Sn(Se0,5Te0,5) pada evaporator sehingga menghasilkan sampel berbentuk lapisan tipis. Sampel dalam bentuk masif dan lapisan tipis kemudian dikarakterisasi menggunakan XRD (X-Ray Diffraction) untuk menentukan struktur Kristal dan parameter kisi, SEM (Scanning Electron Microscopy) untuk mengetahui morfologi permukaan Kristal, dan EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) untuk mengetahui komposisi kimia pada kristal. Variasi teknik preparasi menyebabkan perbedaan kualitas lapisan tipis, yang ditandai dengan perbedaan puncak intensitas, semakin tinggi puncak intensitas maka keteraturan atom pada permukaan semakin baik. Hasil karakterisasi XRD berupa difraktogram menunjukan hasil bahwa kristal pada sampel masif dan sampel lapisan tipis dari bahan Sn(Se0,5Te0,5) yang terbentuk berstruktur Orthorombic, dengan nilai parameter kisi dari sampel masif secara analitik : a = 5,921 Å; b = 5,983 Å; c = 12,991 Å. Sementara untuk sampel lapisan tipis parameter kisi yang dihasilkan secara analitik yaitu : a = 6,047 Å; b = 6,047 Å; c = 12,28 Å. Hasil karakterisasi SEM memperlihatkan bahwa Kristal pada lapisan tipis Sn(Se0,5Te0,5) yang terbentuk memiliki keseragaman bentuk dan butiran kecil-kecil serta sudah terbentuk grain dengan diameter berada pada kisaran 10 nm sampai dengan 11 nm. Serta hasil karakterisasi EDAX diperoleh perbandingan molaritas unsur Sn:Se:Te yaitu 1:0,5:0,5. Kata kunci: struktur kristal, komposisi kimia, morfologi permukaan, lapisan tipis Sn(Se0,5Te0,5) , teknik Bridgman, teknik evaporasi vakum, preparasi.

Item Type: Thesis (S1)
Subjects: Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam > Fisika
Divisions: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (FMIPA) > Pendidikan Fisika > Fisika
Depositing User: Admin Fisika FMIPA
Date Deposited: 26 Jul 2017 03:45
Last Modified: 30 Jan 2019 14:35
URI: http://eprints.uny.ac.id/id/eprint/51037

Actions (login required)

View Item View Item