Eka Masitoh, Hilma and Ariswan, Ariswan (2016) PENGARUH TEMPERATUR SUBSTRAT TERHADAP KUALITAS KRISTAL LAPISAN TIPIS Sn(S0,2Te0,8) HASIL PREPARASI DENGAN TEKNIK EVAPORASI VAKUM. S1 thesis, Universitas Negeri Yogyakarta.
|
Text
Abstrak.pdf Download (93kB) | Preview |
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui struktur kristal dan parameter kisi lapisan tipis Sn(S0,2Te0,8), mengetahui pengaruh temperatur substrat terhadap kualitas struktur kristal lapisan tipis Sn(S0,2Te0,8), dan mengetahui morfologi permukaan serta komposisi kimia lapisan tipis Sn(S0,2Te0,8) yang dipreparasi dengan metode evaporasi vakum. Proses preparasi lapisan tipis Sn(S0,2Te0,8) dilakukan dengan menggunakan teknik evaporasi vakum yang bekerja pada tekanan (5 x 10-5) mbar dengan melakukan variasi temperatur substrat. Temperatur substrat divariasi sebanyak 4 kali, yaitu 250°C, 300°C, 350°C, dan 400°C. Setelah sampel lapisan tipis dihasilkan, sampel kemudian dikarakterisasi menggunakan XRD (X-Ray Diffraction) untuk mengetahui struktur kristal, SEM (Scanning Electron Microscopy) untuk mengetahui morfologi permukaan, dan EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) untuk mengetahui komposisi kimia. Hasil karakterisasi XRD dianalisis menggunakan metode analitik dan penghalusan (refinement) dengan metode Le Bail pada software komputer LPHM-Rietica. Analisis metode analitik dan Le Bail menunjukkan bahwa keempat sampel memiliki struktur kristal kubik dengan parameter kisi sampel 1 (temperatur substrat 250°C): a = b = c = 6,049 Å, sampel 2 (temperatur substrat 300°C): a = b = c = 6,109 Å, sampel 3 (temperatur substrat 350°C): a = b = c = 6,259 Å, sampel 4 (temperatur substrat 400°C): a = b = c = 6,442 Å, sedangkan parameter kisi dengan metode Le Bail, sampel 1 (temperatur substrat 250°C): a = b = c = 6,281 Å, sampel 2 (temperatur substrat 300°C): a = b = c = 6,317 Å, sampel 3 (temperatur substrat 350°C): a = b = c = 6,327 Å, sampel 4 (temperatur substrat 400°C): a = b = c = 6,327 Å. Variasi temperatur substrat menyebabkan adanya perbedaan kualitas lapisan tipis tiap sampel yang ditandai dengan adanya perbedaan intensitas spektrum. Hasil karakterisasi SEM menunjukkan ketebalan lapisan tipis (~0,6) μm dan morfologi permukaan sampel terdiri atas butiran (grain) berukuran (~0,2) μm yang menandakan adanya keseragaman bentuk, struktur, dan warna butir, sehingga morfologi permukaan cukup merata dan terdistribusi secara homogen. Berdasarkan hasil EDS, lapisan tipis Sn(S0,2Te0,8) mengandung unsur Sn, S, dan Te dengan persentase komposisi kimia Sn = 52,31%, S = 0,88%, dan Te = 46,81%. Perbandingan molaritas Sn : S : Te adalah 1,04 : 0,02 : 0,94.
| Item Type: | Thesis (S1) |
|---|---|
| Subjects: | Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam > Fisika |
| Divisions: | Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (FMIPA) > Pendidikan Fisika > Fisika Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (FMIPA) > Pendidikan Fisika > Pendidikan Fisika |
| Depositing User: | Admin Fisika FMIPA |
| Date Deposited: | 16 Nov 2016 01:20 |
| Last Modified: | 06 Mar 2019 00:58 |
| URI: | http://eprints.uny.ac.id/id/eprint/43631 |
Actions (login required)
 |
View Item |